X線回折装置

試料にＸ線を照射し、その回折パターンから結晶構造解析を行う装置です｡
定性・定量分析に使用します。
粉末試料、バルク試料、薄膜材料の分析が可能です。

メーカー	パナリティカル社
型式	EMPYREAN３
主な仕様	粉末測定（集中光学系）、薄膜測定（平行光学系）微小部測定（分析領域：縦方向最小約0．1 mm）
導入年度	2022年度
設置場所	化学繊維研究所
問い合わせ先	化学繊維研究所化学課セラミック材料チーム電話番号：092-925-7722（代表） FAX：092-925-7724
料金	1，980円／時間
その他	データを持ち帰る場合は、新品のCD－R等をご持参下さい。利用に際して、消耗品を準備して頂く場合がありますので、詳細は設備を保有する研究所までお尋ね下さい。