電気・電子・メカトロニクス関連設備機器

装置名	メーカー型式	概要	仕様	料金（概算）	保有部署
流体機械計測評価支援システム	（1）3Dスキャナー部：FARO社　（2）気流発生装置部：（株）日本風洞製作所／（株）東京測器研究所　（3）可視化用光源部：西華デジタルイメージ（株）　（4）音源探査システム部：リオン（株）（1）3Dスキャナー部 Focus Core 　（2）気流発生装置部 SWT-160（小型風洞）、DS-50A（動ひずみ測定器）　（3）可視化用光源部 CWY-10K-LW（連続発振レーザー）、IL-106G（LED光源）　（4）音源探査システム部 Acoustic camera Hextile（リアルタイム音源探査システム）、NL-53EX（精密騒音計）	CAE（コンピュータシミュレーションを援用した設計）で必要となる大空間形状のデジタル化や物体周りで生じる流れや音の可視化を行うシステムであり、流体機械や空調機器の設計最適化や性能評価に活用することができます。	（1）3Dスキャナー部　　計測範囲　0.5～100m 　　3D精度　　2mm＠10m、3.5mm@25m （2）気流発生装置部　・小型風洞SWT-160（SWT-240交換ノズルあり）　　　風速　　　　　17～32m/s（交換ノズル使用時5～16m/s）　　　吹出口寸法　160mm角（交換ノズル使用時240mm角）　　　風速分布　　±1%以下　　　乱れ度　　　 1%以下　・動ひずみ測定器DS-50A 　　　サンプリングレート最大1kHz 　　　測定点数　50点（ひずみユニット）（3）可視化用光源部　・連続発振レーザーCWY-10K-LW 　　　出力　10W 　　　波長　532nm 　・LED光源IL-106G 　　　連続発振、パルス発振　　　最大放射照度（連続光）　4.1W （4）音源探査システム部　・リアルタイム音源探査システムAcoustic camera Hextile 　　　ビームフォーミング法　　　マイクロフォン　128個　　　周波数範囲　410Hz～20kHz 　　　グラフ表示　FFT分析、オクターブ分析、スペクトルマップ　・精密騒音計NL-53EX 　　　JIS C 1509 クラス1 　　　FFT分析、オクターブ分析	（１）3Dスキャナー部：　1,080円／時間（２）気流発生装置部　　　小型風洞SWT-160： 690円／時間　　　動ひずみ測定器DS-50A：　320円／時間（3）可視化用光源部　　　連続発振レーザーCWY-10K-LW：　450円／時間　　　LED光源IL-106G：　220円／時間（4）音源探査システム部　　　リアルタイム音源探査システムAcoustic camera Hextile：　980円／時間　　　精密騒音計　NL-53EX：　70円／時間	機械電子研究所
電気的特性試験装置（LCR測定）	ヒューレットパッカード（株） 4284A	回路素子の抵抗、容量、インダクタンス等の測定（LCR測定）を行う装置です。	LCRメーター測定周波数： 30 Hz ～ 13 MHz 抵抗： 5Ω ～ 20 MΩ 容量： 1 pf ～ 20 pf	900円／時間	機械電子研究所

装置名

メーカー
型式

概要

仕様

料金（概算）

保有部署

（1）3Dスキャナー部：FARO社　（2）気流発生装置部：（株）日本風洞製作所／（株）東京測器研究所　（3）可視化用光源部：西華デジタルイメージ（株）　（4）音源探査システム部：リオン（株）
（1）3Dスキャナー部 Focus Core 　（2）気流発生装置部 SWT-160（小型風洞）、DS-50A（動ひずみ測定器）　（3）可視化用光源部 CWY-10K-LW（連続発振レーザー）、IL-106G（LED光源）　（4）音源探査システム部 Acoustic camera Hextile（リアルタイム音源探査システム）、NL-53EX（精密騒音計）

CAE（コンピュータシミュレーションを援用した設計）で必要となる大空間形状のデジタル化や物体周りで生じる流れや音の可視化を行うシステムであり、流体機械や空調機器の設計最適化や性能評価に活用することができます。

（1）3Dスキャナー部
　　計測範囲　0.5～100m
　　3D精度　　2mm＠10m、3.5mm@25m

（2）気流発生装置部
　・小型風洞SWT-160（SWT-240交換ノズルあり）
　　　風速　　　　　17～32m/s（交換ノズル使用時5～16m/s）
　　　吹出口寸法　160mm角（交換ノズル使用時240mm角）
　　　風速分布　　±1%以下
　　　乱れ度　　　 1%以下
　・動ひずみ測定器DS-50A
　　　サンプリングレート最大1kHz
　　　測定点数　50点（ひずみユニット）

（3）可視化用光源部
　・連続発振レーザーCWY-10K-LW
　　　出力　10W
　　　波長　532nm
　・LED光源IL-106G
　　　連続発振、パルス発振
　　　最大放射照度（連続光）　4.1W

（4）音源探査システム部
　・リアルタイム音源探査システムAcoustic camera Hextile
　　　ビームフォーミング法
　　　マイクロフォン　128個
　　　周波数範囲　410Hz～20kHz
　　　グラフ表示　FFT分析、オクターブ分析、スペクトルマップ
　・精密騒音計NL-53EX
　　　JIS C 1509 クラス1
　　　FFT分析、オクターブ分析

（１）3Dスキャナー部：　1,080円／時間
（２）気流発生装置部
　　　小型風洞SWT-160： 690円／時間
　　　動ひずみ測定器DS-50A：　320円／時間
（3）可視化用光源部
　　　連続発振レーザーCWY-10K-LW：　450円／時間
　　　LED光源IL-106G：　220円／時間
（4）音源探査システム部
　　　リアルタイム音源探査システムAcoustic camera Hextile：　980円／時間
　　　精密騒音計　NL-53EX：　70円／時間

機械電子研究所

電気的特性試験装置（LCR測定）

ヒューレットパッカード（株）
4284A

回路素子の抵抗、容量、インダクタンス等の測定（LCR測定）を行う装置です。

LCRメーター
測定周波数： 30 Hz ～ 13 MHz
抵抗： 5Ω ～ 20 MΩ
容量： 1 pf ～ 20 pf

900円／時間

機械電子研究所

装置名	メーカー型式	概要	仕様	料金（概算）	保有部署

装置名	メーカー型式	概要	仕様	料金（概算）	保有部署
紫外線測定システム	VISO SYSTEMS、StellarNet, Inc. LabSpion UV-VIS、BLUE-Wave UVNb　他	光源や照明機器の紫外線から近赤外までの光学特性（配光、分光スペクトル、全放射束、全光束、色温度、演色性、発光効率など）を評価する装置と部品や材料の分光透過率・反射率・吸収率を評価する装置で構成されています。目に見えない紫外線を使った除菌装置や照射機器の開発に威力を発揮します。	（配光測定部）波長範囲：200～850nm、取付光源：直径1.5m以下、重量25kg以下、測定距離：0.5～約1.6m（暗室サイズの影響）（透過率・反射率・吸収率測定部）波長範囲：200～1050nm	（配光測定部）1,510円/時間（透過率・反射率・吸収率測定部）370円/時間	機械電子研究所
電磁ノイズ測定室	（株）リケン REC-FC-1	電子機器等のEMC評価やアンテナ特性評価のための測定環境です。	電波全無響室(7×3×3m) ターンテーブル：サイズ1.2mφ，耐荷重300kg アンテナマスト：昇降範囲（高さ）1～2m シールド室：4×3×3m		機械電子研究所
静電気測定・除去システム	（株）キーエンス SK-035 他	静電気を非接触で測定するとともに、効率的に除去する装置です。	静電気測定範囲： 0 ～ 30 kV 静電気測定精度： ± 10 V 除去時間： 1 sec 以内イオンバランス精度： ± 10 V	40円/時間	機械電子研究所
雑音総合評価試験機（電源周波数磁界試験）	アメテック（株） EM TEST V260（アメテック（株） EM TEST）	電子機器等の誤動作要因（電源周波数磁界）に対する耐力を試験する装置です。	【電源周波数磁界試験】　IEC61000-4-8準拠　試験磁界：～30A/m	810円／時間	機械電子研究所
GHz帯EMIテストレシーバ	Rohde&Schwart（株） ESR7	CISPR16-1-1に完全適合したEMIテストレシーバです。VCCIの規制に対応したGHz帯の放射エミッション測定が可能です。	周波数：9kHz～7GHz 検波器：PK、QP、AV、RMS、CISPR-AV、CISPR-RMS オプション：トラッキング・ジェネレータ（100kHz～7GHz）、タイムドメイン・スキャン	0円／時間	機械電子研究所
LED照明特性評価システム	(1)(2)大塚電子（株）　(3)コニカミノルタオプティクス（株）　(4)菊水電子工業（株） (1)FM-9165　(2)GP-2000　(3)CA-2000　(4)KHA-1000、TOS9201、TOS3200	LED照明機器や光源の光学特性（全光束、配光、分光分布、光原色、輝度分布等）や電気的特性（高調波電流、絶縁耐圧、絶縁抵抗、漏洩電流）を評価する装置で、4種のシステムで構成されています。 (1)全光束測定システム (2)配光測定システム (3)２次元輝度分布測定システム (4)電気的特性測定システム	(1)積分球直径： 65インチ、測定波長域： 360 ～ 830 nm (2)光路長：最大12 m、測定範囲：4π sr (3)解像度： 980 × 980 pixel、測定輝度範囲： 0.1 ～ 100,000 cd/m² (4)高調波電流測定（電源容量：単相 2 kVA）、耐電圧試験、絶縁抵抗試験、接触電流測定、保護導体電流測定	照明特性評価： 2,440円／時間電気的特性評価： 730円／時間	機械電子研究所

装置名	メーカー型式	概要	仕様	料金（概算）	保有部署
ロックインアンプシステム	（株）エヌエフ回路設計ブロック LI5640	ノイズに埋もれた微小信号の電圧を高精度に測定する装置です。	周波数： 1 Hz ～ 100 kHz （エクステンダで 5 MHz に拡張可）発振器内蔵	200円/時間	機械電子研究所

電気・電子・メカトロニクス関連設備機器

物性・定性・定量試験設備

加工関連設備

特性・強度・耐久性試験設備

汎用設備