電気・電子・メカトロニクス関連設備機器

回路素子の抵抗、容量、インダクタンス等の測定（LCR測定）を行う装置です。

LCRメーター
測定周波数： 30 Hz ～ 13 MHz
抵抗： 5Ω ～ 20 MΩ
容量： 1 pf ～ 20 pf

900円／時間

光源や照明機器の紫外線から近赤外までの光学特性（配光、分光スペクトル、全放射束、全光束、色温度、演色性、発光効率など）を評価する装置と部品や材料の分光透過率・反射率・吸収率を評価する装置で構成されています。目に見えない紫外線を使った除菌装置や照射機器の開発に威力を発揮します。

（配光測定部）波長範囲：200～850nm、取付光源：直径1.5m以下、重量25kg以下、測定距離：0.5～約1.6m（暗室サイズの影響）
（透過率・反射率・吸収率測定部）波長範囲：200～1050nm

（配光測定部）1,510円/時間
（透過率・反射率・吸収率測定部）370円/時間

電子機器等のEMC評価やアンテナ特性評価のための測定環境です。

電波全無響室(7×3×3m)
ターンテーブル：サイズ1.2mφ，耐荷重300kg
アンテナマスト：昇降範囲（高さ）1～2m
シールド室：4×3×3m

静電気を非接触で測定するとともに、効率的に除去する装置です。

静電気測定範囲： 0 ～ 30 kV
静電気測定精度： ± 10 V
除去時間： 1 sec 以内
イオンバランス精度： ± 10 V

40円/時間

電子機器等の誤動作要因（電源周波数磁界）に対する耐力を試験する装置です。

【電源周波数磁界試験】　IEC61000-4-8準拠
　試験磁界：～30A/m

810円／時間

CISPR16-1-1に完全適合したEMIテストレシーバです。VCCIの規制に対応したGHz帯の放射エミッション測定が可能です。

周波数：9kHz～7GHz
検波器：PK、QP、AV、RMS、CISPR-AV、CISPR-RMS
オプション：トラッキング・ジェネレータ（100kHz～7GHz）、タイムドメイン・スキャン

0円／時間

LED照明機器や光源の光学特性（全光束、配光、分光分布、光原色、輝度分布等）や電気的特性（高調波電流、絶縁耐圧、絶縁抵抗、漏洩電流）を評価する装置で、4種のシステムで構成されています。

(1)全光束測定システム
(2)配光測定システム
(3)２次元輝度分布測定システム
(4)電気的特性測定システム

(1)積分球直径： 65インチ、測定波長域： 360 ～ 830 nm
(2)光路長： 最大12 m、測定範囲：4π sr
(3)解像度： 980 × 980 pixel、測定輝度範囲： 0.1 ～ 100,000 cd/m²
(4)高調波電流測定（電源容量：単相 2 kVA）、耐電圧試験、絶縁抵抗試験、接触電流測定、保護導体電流測定

照明特性評価： 2,440円／時間
電気的特性評価： 730円／時間

ノイズに埋もれた微小信号の電圧を高精度に測定する装置です。

周波数： 1 Hz ～ 100 kHz （エクステンダで 5 MHz に拡張可）
発振器内蔵

200円/時間