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微分干渉顕微鏡システム

微分干渉顕微鏡システムの画像

微分干渉顕微鏡システム

鏡面研磨仕上げ(+エッチング処理)した金属材料等の組織を観察するための光学顕微鏡です。
メーカー オリンパス
型式 BX-60
主な仕様

可能観察法: 落射明視野、落射暗視野、落射ノマルスキー微分干渉、落射簡易変更
総合倍率: 50×, 100×, 200×, 500×, 1,000×

導入年度 1999年度
設置場所 機械電子研究所
問い合わせ先

機械電子研究所 材料技術課 金属プロセスチーム
電話番号:093-691-0260(代表)
FAX:093-691-0252

料金

380円/時間

その他

使用にあたっては、事前に担当職員と調整してください。
観察画像データをお持ち帰りの場合は、CD-Rをご持参ください。


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