金属材料Ｘ線解析システム

(1) 蛍光X線分析装置〔XRF〕
　・波長分散型
　・測定可能元素： Be～U
　・分析法： 検量線法、FP法、薄膜FP法
　・試料室雰囲気： 真空またはHe
　・試料自動交換機構付き
　・試料サイズ（固体の場合）： 51mmφ、47mm高さまで
　・測定径： 5～34mmφ

(2) X線回折装置〔XRD〕
　・X線管球： Cu, Cr, Co
　・測定径： 0.05～2mmφ
　・試料最大重量： 5kg
　・θ-2θ測定（定性分析、定量分析）
　・残留オーステナイト量測定
　・残留応力測定（2D法、sin2Ψ法）
　・極点図測定
　・平行ビーム薄膜測定（視斜角入射測定、X線反射率測定）

機械電子研究所 材料技術課
電話番号：093-691-0260（代表）
FAX：093-691-0252

(1) 蛍光X線分析装置〔XRF〕： 1,420円/時間
(2) X線回折装置〔XRD〕： 2,940円/時間

この設備は（公財）JKAの助成を受けて導入されました。
使用にあたっては、事前に担当職員と調整してください。

問い合わせ先
(1) 蛍光X線分析装置〔XRF〕： 表面プロセスチーム
(2) X線回折装置〔XRD〕： 金属プロセスチーム