マイクロフォーカスX線CTシステム

（株）ニコンインステック MCT225K

試料の内部の構造や欠陥を非破壊で定量的に3次元評価できるシステムです。測定精度(VDI/VDE 2630 準拠)は 9+L/50(μm )で、座標計測し設計値と測定値との比較、試料内部の欠陥の位置と体積の測定の機能を有しています。樹脂成形品、軽金属の鋳物品や電子部品等の内部構造を破壊による実測と比べて短時間に評価でき、試作開発時における期間短縮、品質管理に有用です。